蔡司离子束扫描电子显微镜rossbeam 优势说明：
蔡司离子束扫描电子显微镜Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。无论是在科研或是工业实验室，您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。
详细说明：
蔡司离子束扫描电子显微镜Crossbeam系列的FIB-SEM结合了场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦离子束(FIB)优异的加工性能。
无论是在科研或是工业实验室，您都可以在一台设备上实现多用户同时操作。
得益于蔡司Crossbeam系列模块化的平台设计理念，您可以根据自己需求的变化随时升级仪器系统。
在加工、成像或是实现三维重构分析时，Crosssbeam系列都将大大提升您的应用体验。
使用Gemini电子光学系统，您可以从高分辨率SEM图像中提取真实样本信息
使用新的Ion-sculptor FIB镜筒以及全新的样品处理方式，您可以大限度地提高样品质量、降低样品损伤，同时大大加快实验操作过程
使用Ion-sculptor FIB的低电压功能，您可以制备超薄的TEM样品，同时将非晶化损伤降到非常低
使用Crossbeam 340的可变气压功能
或使用Crossbeam 550实现更苛刻的表征，大仓室甚至为您提供更多选择
EM样品制备流程
按照以下步骤， 率、高质量地完成制样
Crossbeam 为制备超薄、高质量的TEM样品提供了一整套解决方案，您可以 地准备样品，并在TEM或STEM上实现透射成像模式的分析。
